国外学术界有个考核方法,叫作“代表作制度”。意指每个人拿出来自己最具代表性的作品来pk,避免那种“水平不够,数量来凑”的平庸型劳模混水摸鱼。这篇文章就是我个人近几年的工程技术方法代表作。

      小概率随机偶发故障,试问电子技术从业者有几人不头疼。随机偶发有两种:

      一是大批量产品中的个别台次损坏,坏的已经不能测试了,拿一台与之完全一样的良好机器做故障复现,复现不了;

      二是单台产品工作时,偶尔故障,虽然没彻底损坏,但再现也蛮难。

      复现无望,根因难解。

      以下为针对此类问题的解决方法和结论(自定义为“60分原理”):

      核心思想是:一个偶尔考试不及格的孩子,多次考试时,即便每次都是及格的,笃定他的分数也不会太高。所以,找到在几个线以上不多点分数的孩子,玩命地给他补课提高到90分以上,是不是合理可以想象他再考试时不及格的概率会大大降低。

      60分原理的核心内容:

     1)不必再纠结于故障再现,小样本实验量下有可能根本不能再现;

          批量产品中少量台次的小概率事件,抽样抽不到隐患机;

          单台产品多次运行的小概率事件,实验次数少有可能不会 < 60分。

     2)批次性产品的小概率台次产品,工程计算是唯一的解决方法;

         找到影响导致故障的器件的特定参数,确定参数临界值(60分),将参数均值平移提升、提高器件精度使最大误差情况下的器件都不会超出60分的参数值、做器件筛选剔除掉超出60分的参数的器件。

      3)对单台偶发的小概率故障,倒推出可能与此故障有关的参数,测试其参数特征(一般是信号质量、电源),如果在及格线以上超出60分并不多,整改提分,滤波处理减少纹波、降低及格线提高容忍度。

      4)如果发现有故障总是伴随着某项功能发生的同步性相关性特征,则人为制造大意外工况,在意外发生时测量参数,看是否有临近60分现象;如果有,则抑制大意外、切断大意外对参数的干扰路径、降低及格线提高容忍度。

       导致以上偶发问题的原因常常是如下因素的累积:

  1. 输入输出阻抗匹配问题
  2. 器件温漂、时漂
  3. 器件参数离散性问题(生产)
  4. 外来辐射干扰EMC问题
  5. 电源或地线波动问题
  6. 器件选型参数偏差问题
  7. 布线的单点串并联问题
  8. 导线或走线的高频特性问题
  9. 信号完整性问题
  10. 器件分布参数问题(如引脚电感)
  11. 器件内部电路引起的问题(如Cin)
  12. 包括但不限于如上的其它可能多种因素