硬件产品随机小概率偶发故障解决方法

国外学术界有个考核方法，叫作“代表作制度”。意指每个人拿出来自己最具代表性的作品来pk，避免那种“水平不够，数量来凑”的平庸型劳模混水摸鱼。这篇文章就是我个人近几年的工程技术方法代表作。

小概率随机偶发故障，试问电子技术从业者有几人不头疼。随机偶发有两种：

一是大批量产品中的个别台次损坏，坏的已经不能测试了，拿一台与之完全一样的良好机器做故障复现，复现不了；

二是单台产品工作时，偶尔故障，虽然没彻底损坏，但再现也蛮难。

复现无望，根因难解。

以下为针对此类问题的解决方法和结论（自定义为“60分原理”）：

核心思想是：一个偶尔考试不及格的孩子，多次考试时，即便每次都是及格的，笃定他的分数也不会太高。所以，找到在几个线以上不多点分数的孩子，玩命地给他补课提高到90分以上，是不是合理可以想象他再考试时不及格的概率会大大降低。

60分原理的核心内容：

1）不必再纠结于故障再现，小样本实验量下有可能根本不能再现；

批量产品中少量台次的小概率事件，抽样抽不到隐患机；

单台产品多次运行的小概率事件，实验次数少有可能不会 < 60分。

2）批次性产品的小概率台次产品，工程计算是唯一的解决方法；

找到影响导致故障的器件的特定参数，确定参数临界值（60分），将参数均值平移提升、提高器件精度使最大误差情况下的器件都不会超出60分的参数值、做器件筛选剔除掉超出60分的参数的器件。

3）对单台偶发的小概率故障，倒推出可能与此故障有关的参数，测试其参数特征（一般是信号质量、电源），如果在及格线以上超出60分并不多，整改提分，滤波处理减少纹波、降低及格线提高容忍度。

4）如果发现有故障总是伴随着某项功能发生的同步性相关性特征，则人为制造大意外工况，在意外发生时测量参数，看是否有临近60分现象；如果有，则抑制大意外、切断大意外对参数的干扰路径、降低及格线提高容忍度。

导致以上偶发问题的原因常常是如下因素的累积：